1. 什么是JTAG？

JTAG（Joint Test Action Group）是一个接口，为了这个接口成立了一个小组叫JTAG小组，它成立于1985年，比推丸菌的年龄还大。在1990年IEEE觉得一切妥当，于是发布了 IEEE Standard 1149.1-1990，并命名为 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture，这就是大名鼎鼎的JTAG了。

2. JTAG用在哪里？

JTAG的三大功能你知道吗，响当当的：

下载器，即下载软件到FLASH里。
DEBUG，跟医生的听诊器似的，可探听芯片内部小心思。
边界扫描，可以访问芯片内部的信号逻辑状态，还有芯片引脚的状态等等。

3. JTAG原理

下图为JTAG控制器的内部结构框图，这部分讲解起来比较麻烦，这就就简单的介绍一下TRST管脚，该管脚为可选管脚，主要的作用是复位调试器，在实际开发中如果有相应的需求时可以接上，也可以不接。其他管脚的定义在后面的图会详细的解释.
在这里插入图片描述

下图为JTAG重要的四根线：TDI、TDO、TMS、TCK等。

TDI为测试数据输入，用于指令以及测试和编程数据的串行输入管脚，在TCK的上升沿移入。注意后面这句话，可以通过将改管脚接VCC来禁用JTAG，意思是在不用JTAG的时候可以将其禁用，那么在电路设计时，接入一个上拉电阻就行，尽管后面有25K的弱上拉，但是在调试过程中会出现高速下载的时候，下载不了程序，建议外部预留上拉电阻(4.7K或者10K的电阻)
TDO和TDI类似，唯一的不同是TDO是三态的，三态意味着可以不接上下拉电阻，该管脚是在TCK下降沿移出。禁用JTAG时，只需要悬空该管脚，所以这个管脚不需要加上下拉电阻。
TMS为测试模式选择，提供控制信号输入管脚，控制信号用来控制TAP状态机的跳变。状态机跳变发生在TCK的上升沿，将此管脚接VCC禁用JTAG。建议在外部加4.7的上拉电阻
TCK是测试时钟输入，边界扫描电路的时钟输入脚，如果不需要使用JTAG，则需要拉低，建议在外部加上4.7K的下拉电阻。

4. JTAG接口定义

JTAG根本没有标准的接口定义，甚至每家公司定义都不一样，推丸菌罗列了4种接口定义，有ARM公司的定义，有ST公司的定义等等，仅供大家参考。可能有眼尖的工程师，对的，我这个跟Intel的文档是一样的[请参考jtag-101-ieee-1149x-paper.pdf]。推丸菌建议硬件攻城狮不要纠结于引脚定义，而要专心设计电路，深入理解TMS/TCK/TDO/TDI等信号。下图为常见的几种定义(大部分采用ARM 20PINS的标准)

在这里插入图片描述

5. SWD模式

SWD是ARM公司提出的另一种调试接口，相对于JTAG接口，使用更少的信号。四根信号如下：

VRef：目标板参考电压信号。用于检查目标板是否供电，直接与目标板VDD联，并不向外输出电压；
GND：公共地信号；
SWDIO：串行数据输入输出，作为仿真信号的双向数据信号线，建议上拉(高速下载时一定需要上拉)；
SWCLK：串行时钟输入，作为仿真信号的时钟信号线，建议下拉(高速下载时一定需要下拉)；
SWO：串行数据输出引脚，CPU调试接口可通过SWO引脚输出一些调试信息。该引脚是可选的；
RESET：仿真器输出至目标CPU的系统复位信号。该引脚可选，建议选择上，因为ULINK是一定需要该管脚的，使得仿真器能够在连接器件前对器件进行复位，以获得较理想的初始状态，便于后续连接仿真。