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两个重要概念：边界扫描和TAP
边界扫描
JTAG如何用于芯片测试呢？ 其中用到的最主要部件就是边界扫描链。
边界扫描（Boundary-Scan）即在芯片的每个输入输出管脚上都增加一个移位寄存器单元（Boundary-Scan Register Cell），因为这些移位寄存器单元分布在芯片的边界上，所以被称为边界扫描寄存器。
命名为边界扫描链，是由于它位置处于处理器的边界上。我们知道cpu是通过引脚与外围交流的，所有的数据都会通过引脚输入或者输出，而JTAG就是通过监控引脚的信号达到芯片测试的目的。而边界扫描链就是在引脚上的一个部件。如下图：
在JTAG 调试中，边界扫描是一个很重要的概念，当需要调试芯片时，这些寄存器将芯片与外围电路隔离，实现对芯片输入输出信号的观察和控制：
对于输入管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把数据加载到该管脚中；
对于输出管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”（CAPTURE）该管脚上的输出信号；
通过边界扫描链，当有信号输入的时候，边界扫描链就能获取信号，当cpu要输出信号的时候，边界扫描链也能获取要输出的信号。另外也可以通过边界扫描链来直接向外部输出信号。
无论是信号的抓取还是输出，都需要有接口来保存这些信号，TDI跟TDO就是做这样一些工作的。
本来边界扫描链保存着引脚上的信号，当通过TDI引脚输入我们自己的信号的时候，会发生沿上面红线方向的移位操作：
| TDI ——〉 边界扫描链 —— 〉 TDO |
就能从TDO获取边界扫描链上的信号，我们从TDI输入的信号也会到边界扫描链上去。
在cpu跟外界通信的引脚上的数据无非就是 指令 跟 数据信号（包括地址跟数据） 两种。但是这两者的结合形成了一个完整的程序，能对它们进行监控就表明我们能进行程序的调试。
正常运行状态下，这些边界扫描寄存器单元对芯片是透明的，所以正常的运行不会受到影响。另外，芯片输入输出管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来，在芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain），它可以串行的输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，实现对处在调试状态下的芯片的输入和输出状态的观察和控制。
TAP
TAP（TestAccessPort）是一个通用的端口，通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAPController)来完成的。TAP的几个接口信号及其作用全部都在《硬件知识-JTAG接口》中全部表示了。
简单地说，PC机对目标板的调试就是通过TAP接口完成对相关数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的访问。
